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標旗光電參加第23屆CIOE取得圓滿成功!
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發布時間:2021-09-23 13:45:45 閱讀:166


標旗光電參加第23屆CIOE取得圓滿成功!

 2021年916-18日,為期3天的第23屆中國國際光電博覽會(CIOE2021)于今天落下帷幕,此次展會我司攜新產品“TMS-320透過率自動測量儀”受到了客戶的嘖嘖稱贊,吸引了眾多參觀者的目光,帶動了大家的熱情,久久不息。

     回顧現場,耳畔依舊是人聲鼎沸,參展人流穿梭不息。現在讓我們一起來回顧一下展會精彩畫面!

標旗展臺現場圖片

                     我司工作人員在為觀展客戶講解儀器

   

    作為首次亮相本次展會的TMS-320透過率自動測量儀,無疑是展會上最亮眼的存在,它是在成熟的顯微透過率光路系統基礎上,樣品臺升級為高精度電動位移平臺,放置樣品后,系統自動將待測小孔/濾光片依次移動至測量區域,并記錄數據實現樣品多孔/多點透過率自動測量,適用于手機面板的多孔測試、陣列濾光片的高通量測試、鍍膜濾光片的均勻性分析。

TMS-320透過率自動測量儀

TMS透過率測量儀能快速準確地測量各類平面、球面、非球面等光學元件的透過率,可用于實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據。適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學元件及組合鏡頭等的檢測。

TMS透過率測量儀

Sphere-3000是一套全波長球面光學元件反射率測量儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率,適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量,還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

Sphere-3000 光學元件反射率測量儀

TMS-PRO 顯微透過率測量儀,基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行精確定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣品微小區域的相/絕對透射率。對比傳統目鏡對焦,其采用數字相機視頻對焦更準確、測試速度更快,可調光斑孔徑大小達到了前所未有的最小尺寸,更好的適應了市場上越來越精細的測試樣品。專門用于手機蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區域的透過率檢測。

TMS-PRO 顯微透過率測量儀

Planum-3000是一套全波長的光譜分析儀,用于快速測量各類平面光學元件的反射、透射光譜,可進行多角度絕對反射率、相對反射率、透射率測量,偏振光測量,膜性測量,顏色測量等。

Planum-3000 平面光學元件光譜分析儀

OTM-20肉厚測量儀,基于光學原理,針對1mm-30mm內各類薄片式平面、球面及非球面光學元件的中心厚度進行非接觸式高精度測量,1秒內即可完成單個樣品的厚度測量,數據重現性極高;對樣品的適應性強,測量范圍寬,可針對不同玻璃材質和不同厚度的樣品進行測量。

OTM-20肉厚測量儀

2021年918日,標旗光電在本次光博會取得了圓滿成功,展會上展示的光譜快速檢測技術得到了業內人士的普遍認可,其檢測數據精準、速度快、操作簡單、自動化程度高等優勢,滿足了光電行業客戶對產品全檢的需求。

標旗光電的每一次技術革新與突破,都離不開新老客戶的信任與支持!未來,我們必將一如既往地全力以赴,致力于各行業光譜快速檢測方案的搭建,持續創新產品。2021年中國國際光電博覽會已經圓滿結束了,但是我們從未停下腳步,不忘初心,砥礪前行,期待與您下一次相見!



 
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