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          ADMS 角分辨光譜測量儀

           

          ADMS角分辨光譜儀是一款可變角度的多功能光譜測量儀器, 采用智能旋轉設計, 自動控制入射與采集角度,可快速實現透過/反射/熒光/散射/輻射等多種光譜測量。適用于光子晶體等納米材料的能帶缺陷特性研究、光學元件的不同角度的透反射測量、LED等發光器件的發光特性研究。

           

          儀器特點

          全角度測量:發射端角度范圍180°,接收端角度范圍360°,可以實現,反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量; 

          精確角度控制:高精度電機,角度精度及重復性能優異;

          多光譜測量模式:可以實現上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量;

          寬光譜范圍:內置鹵素光源,可實現380~1700nm超寬波段光譜測量范圍;

          可編程測量模式:可以通過編程設置不同的角度范圍和步進,來實現自動多角度光譜測量,可批量測試;

          擴展性好:根據客戶的需求,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的光譜測量;

          多維調節樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成,可實現樣品的五維正交調節

           

          應用領域

          光子晶體器件、材料鍍膜、納米光學材料、LED光源、液晶顯示、傳感器器件制備、

          角度相關材料分析

           

          技術參數

          型號

          ADMS-NIR

          ADMS-VIS

          調節維度

          x+y+z/α+β 五維

          x+y+z/α+β 五維

          測量模式

          上反射、下反射、透射、散射、

          輻射、自由、編程

          上反射、下反射、透射、散射、

          輻射、自由、編程

          光譜波段

          900~1700nm

          380~1100nm

          入射光錐半角

          3.9°,添加光闌后,最小錐角可達

          3.9°,添加光闌后,最小錐角可達

          出射光錐半角

          3.9°,添加光闌后,最小錐角可達

          3.9°,添加光闌后,最小錐角可達

          外臂(入射)范圍

          0~180°

          0~180°

          內臂(出射)范圍

          0~360°

          0~360°

          最小步距角

          0.0012°

          0.0012°

          角度精度

          ±0.05°

          ±0.05°

          功耗

          50 W(鹵素燈:9W

          50 W(鹵素燈:9W

          計算機控制接口

          USB 2.0 @ 480 Mbps

          USB 2.0 @ 480 Mbps

          電源接口

          AC 220 V,標準電源插口

          AC 220 V,標準電源插口

          尺寸 (cm)

          600*300*420

          600*300*420

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